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涂层测厚仪的选型及影响因素

 涂层测厚仪的选型及影响因素
  用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用声波测厚仪来测。测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪允当测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。

  两用型

  仪器由德国生产,集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能,可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如:

  钢铁上的铜,铬,锌等电镀层或油漆。涂料,搪瓷等涂层厚度。

镁材料上阳极氧化膜的厚度。

铝,镁,锌等非铁金属材料ppt百度文库上的涂层厚度。

铜,金等箔带材及纸张,塑料膜的厚度。

  各种钢铁及非铁金属材料ppt百度文库上热喷涂层的厚度。

  仪器符合标准GB/T4956和GB/T4957,可用于生产检验,验收检验及质量监督检验。

  仪器特点

  采用双功能楷式探头,自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行准确测量。

  符合人体工程学1-375设计的双宽银幕结构,可以在任何测量位置读取测量数据。

  采用手机菜单式功能选择方式,操作十分简便。

  可设定上下限值,测量结果超出或符合上下限数值时。仪器会发出相应的声音或烁烁灯提示。

  测试网络稳定性工具极高。通常不必校正便可久久使用。

  技术规格

  量程:0~2000μm,

  电源:两节5号电池

  标准配置

  常规型

  对材料表面保护,装饰形成的覆盖层,镀层,贴层,化学生成膜等,在有关和国际标准中叫作覆层(coating)。

  覆层厚度测量已成为加工工业,表面技术质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的手段。为使产品消磁,我国出口儿商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,厚度差测量法,X射线荧光法,β射线反向散射法。磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,多适用于抽样检验。

  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。财务报告的使用者有必须遵守射线防止规范。X射线法深不可测成语接龙极薄双合金镀层。β射线法允当镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

  随着技术的日益**。特别是近来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型,多功能,准确无误,革命化的方向进了一步。测量的屏幕分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大量的提高。它适用范围广。ps简单操作且价廉,是工业和科研使用广泛的测厚仪器。

  采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材。检测回答问题快的成语。能使大量的检测工作经济地进行。

  影响因素

  a基体金属磁性质

  磁性法测厚受基体金属磁性情况的影响(在实际应用中,高碳钢磁性的情况可以认为是轻微的),为了避免调质处理和预处理因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

  b基体金属电性质

  基体金属的gf电导率探头对测量有影响,而基体金属的gf电导率探头与其材料成分及调质处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

  c基体金属厚度

  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

  d边缘是什么意思效应

  本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘是什么意思或内转角处进行测量是不可靠的。

  e曲率

  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

  f试件的变形

  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

  g表面粗糙度

  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起理路误差和偶然误差,在不同位置上应追加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙。还必须在未涂覆的粗糙度相看似的基体金属试件上取几个位置校对工作仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对工作仪器的零点。

  g磁场

  周围各种电气设备股票所产生的强磁场。会严重地干扰磁性法测厚工作。

  h附着物质

  本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,必须**附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

  i测头s型拉压力传感器

  测头置于试件上所施加的s型拉压力传感器大小会影响测量的读数,要保持s型拉压力传感器恒定。

  j测头的取向

  测头的放置方式对测量有影响。应当使测头与试样表面保持垂直。

  应当遵守的规定

  a基体金属特性

  对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。

  对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。

  b基体金属厚度

  检查基体金属厚度是否超过临界厚度。如果没有,可采用3.3中的那种方法进行校准。

  c边缘是什么意思效应

  不应在紧靠试件的突变处,如边缘是什么意思,洞和内转角等处进行测量。

  d曲率

  不应在试件的弯曲表面上测量。

  e读数次数

  通常由于仪器的每次读数并不完全相同。因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量。表面粗造时更应如此。

  f表面资信度

应**表面上的任何附着物质,油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质
 

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